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半导体XRD测试机构 贵州XRD倒易空间(RSM)检测

发布日期 :2022-10-24 10:21发布IP:123.58.44.124编号:10710560
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XRD倒易空间(RSM)检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,贵州XRD倒易空间(RSM)检测,以及行业应用技术开发。

在近几年中,随着小角X射线衍射理论的发展以及大功率辐射源的产品化,使得小角X射线衍射技术在对薄膜及界面的特性研究有了很大的提高。小角X射线衍射技术以其制样方便,对测试的样品无损伤,测试的表面结构信息精度较高,测得的数据可靠,对样品没有限制等优点正在获得越来越多材料研究人员的注意。但是,小角X射线技术由于需要很的角度控制技术,仪器设备的价格很高,目前普及率相对不高。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~XRD倒易空间(RSM)检测


XRD倒易空间(RSM)检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。

怎么分析XRD图谱

1、XRD图中有很多信息,如组成(物相)和结构、粒度、应力、结晶度等,其分析方法各不相同。

2、比如,若是做物相分析,样品是已知物质的,你只要将XRD图谱与标准图进行比对就可以大致判断,一般设备中都会提供已知物数据库,供调用比对。

3、当然杂相分析就需要一定的经验了,不是一两句话就能说清楚的。

4、若是做的未知物(新物相),则必须做纯,再用相应软件如PowderX等来处理,也有一定的技巧。



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XRD倒易空间(RSM)检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。

EDS及XRD的性能区别

1、EDS是针对一些元素的含量进行测试,XRD是测试晶体结构的。

2、EDS (Energy Dispersive Spectrometer)能谱分析,能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析范围:4-100号元素定性定量分析。



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