半导体薄膜测试机构 半导体XRD检测机构

半导体XRD检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，河北半导体XRD检测，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，半导体XRD检测服务，以及行业应用技术开发。

基于Omega扫描全自动晶体定向仪原理

单晶的生长和应用需要确定其相对于材料外表面或其它几何特征的晶格取向。

目前主要采用的定向方法是X射线衍射法，测量一次只能获取一个晶格的平面取向，测量出所有完整的晶格取向需要进行反复多次测量，通常是进行手动处理，而完成这个过程至少需要几分钟甚至数十分钟。

全自动晶体定向仪采用先进omega扫描方法进行扫描测试，半导体XRD检测机构，Omega全自动晶体定向仪可以在很短的时间内，通过一次测量获取晶体的全部晶格数据。

因此，omega全自动晶体定向仪特别适合于系列研究和工业应用。

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mdi-jade是处理粉末x射线衍射数据的重要软件，是寻找标准衍射数据的有力工具。因此，它是化学和材料研究人员必备的软件之一。在本文中，小编简要介绍了mdi-jade，并通过一个例子说明了mdi-jade基本的用法。

首先，小编使用的软件版本是MDI Jade 6.0。由于个人设置或软件版本不同，下面的截图可能与读者的截图略有不同。

基本界面

软件的基本界面如上图所示。软件开放界面的菜单栏已经包含了平滑、寻峰、搜索等常用功能。其他比较复杂的功能也需要一些比较繁琐的软件设置，小编这里没有深入的介绍，如果将来有机会的话，我们会一起学习的。本文的内容基本上可以通过上面显示的选项来完成。

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EDS及XRD的性能区别

1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。

2、EDS (Energy Dispersive Spectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析范围：4-100号元素定性定量分析。

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半导体薄膜测试机构-半导体XRD检测机构由广东省科学院半导体研究所提供。广东省科学院半导体研究所在技术合作这一领域倾注了诸多的热忱和热情，半导体研究所一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以品质、服务来赢得市场，衷心希望能与社会各界合作，共创成功，共创**。相关业务欢迎垂询，联系人：王小姐。

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