XRD物相分析检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
1.为什么要求XRD测试粉末样品要稍微多一些？
因为粉末样品要铺满整个样品台，XRD物相分析检测报告，不然X射线可能会打在样品台上，颗粒数目太少会减少衍射强度，导致峰强降低，影响数据质量，量很少的话尽量把样品放在中心位置。
粉末样品制备的大概有三点注意点。就是粒度均匀，原因是不均匀的颗粒可能会遮挡住衍射信号。第二就是粒度保持在45μm左右。基本做法就是将样品干燥后用研钵研细再测就好。如果是假如颗粒太粗，晶粒数目不够会导致得到的衍射信号是一个个晶胞共同叠加产生的，衍射强度降低。假如自己的样品不好研磨，或者担心研磨不够细，也可以用个200目或者其他大小的筛子筛一下。第三就是样品量不能太少。
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而对于部分粉末和固体样品，由于存在比较大的周期(比如某晶面d值大于17.6埃，对应2theta小于5度)的微观结构，这时就需要选择小角X射线衍射的模式，通常起始角度可以从零点几度开始，不同仪器配置这个起始角会有所区别。很多同学在准备做X射线衍射测试的时候，拿着样品不知道该怎么选择仪器，以及选择了仪器不知道选择什么模式对样品进行测试，今天和大家聊聊XRD测试仪器选择相关的一些问题。
粉末和块状样品
对常规的粉末样品和块状样品一般做常规的XRD测试即可，需要注意的是，XRD物相分析检测实验室，在测试的时候需要根据自己的样品情况选择合适的2theta角度范围，通常根据样品种类，测试范围无机物10-70，金属30-90，XRD物相分析检测哪家好，有机物5-65。
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XRD图谱怎么分析物质结构
随着计算机技术的发展，现在都是通过导入研究者测试得到的XRD图谱，电脑软件（如Jade）通过匹配度寻找与之比配的pdf卡片，很方便。
在XRD中，不仅可以定性得到物质的种类，相结构。而且可以通过谢乐公式得到晶粒尺寸以及通过精修手段得到晶胞常数。
实际操作过程中，一般都能得到一个XRD的测试图谱，在你尽可能提供多的信息情况下，比如物相的制备方法，所包含的元素等，与标准卡片对比，新疆维吾尔自治XRD物相分析检测，找到跟你XRD图谱一样的标准图谱，再分析，当然得到的结果中可能有多种物相，那样你就得根据你图谱上的峰的位置一条一条地去找卡片库，匹配，然后就OK了
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