XRD倒易空间（RSM）检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，XRD倒易空间（RSM）检测服务，以及行业应用技术开发。
具有主要已知取向的晶体可以用固定的排列方式进行布置，但偏离它的范围一般是在几度，有时偏差会达到十几度。在特殊情况下（立方晶体），它也适用于任意取向。
常规晶格的方向是和转台的旋转轴保持一致，获得晶体表面参考的一种可能性是将其地放置在调整好旋转轴的测量台上，并将测量装置安装在测量台下面。
如果要研究大晶体，或者要根据测量结果进行调整，就把晶体放置在转台上。
上表面的角度关系可以通过附加的光学工具获取。方位角基准也可以通过光学或机械工具来实现。
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四常见问题解答
1 单晶XRD能得到什么？
挑选晶体的建议：
1) 提前准备好您的样品和所需工具等。
2) 使用洁净的上样工具，避免污染。
3) 尽可能将样品分为多份，以方便多次尝试。
4) 选择好适用的油—快速均匀地与晶体混合(低温实验)。
5) 尽量使用冷光源照明，以延长晶体挑选时间。
6) 请先了解您所用的显微镜的放大倍率和衍射仪的光斑大小，河南XRD倒易空间（RSM）检测，并照此挑选晶体样品。 ——请记住，常常小晶体的质量会更好。
7) 挑选面/角清晰的晶体；避免挑选有裂缝和表面有缺陷的晶体；从簇状或薄片状晶体中分离出单颗晶体(小心处理以免损坏晶体)。
8) 将挑选好的晶体转移到合适的上样工具上—尽量少裹油、尽量减少样品转移到衍射仪上的时间、尽量减少在转移过程中对晶体的损坏。
9) 确认晶体处于低温气流中，并通过一幅衍射照片来快速评估晶体质量。
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EDS及XRD的性能区别
1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。
2、EDS (Energy Dispersive Spectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析范围：4-100号元素定性定量分析。
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