XRD物相分析检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,XRD物相分析检测哪里可以做,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
在做单晶X射线衍射(单晶XRD)测试时,工作人员在与很多同学沟通中了解到,好多同学对单晶XRD不太了解,针对此,相关同事对单晶xrd常见问答进行整理,XRD物相分析检测哪家好,希望可以帮助到科研圈的伙伴们;
1.怎么看独立可观测点和衍射点分别是多少?
答:可以在后缀是.abs文件中查看。
2.没有吸收校正文件,对后期发文章有影响吗?
答:这个不是必要提交文件,发文章主要提交cif, checkcif文件。
3.一般晶体长出来,在光学显微镜看,显微镜调到多少合适?
答:这个没有固定的,每个晶体大小不一样,先调低倍,再慢慢往上调。
4.如果键长超出了该有的范围,会出现A类错误。不知道如何解释?
答:可以用指令DFIX,来限定原子间的距离。
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X射线发生器
X射线发生器由X射线管、高压发生器、管压和管流稳定电路以及保护电路等组成。这里着重介绍X射线管。X射线管的实质是个真空二极管,其阴极是钨丝,阳极为金属片。
在阴极两端加上电流之后,钨丝发热,产生热辐射电子。这些电子在高压电场作用下被加速,轰击阳极(又称靶),产生X射线(此过程产生大量热量,为了保护靶材,必须确保循环水系统工作正常)。
常见的阳极靶材有:Cr, Fe, Co, Ni, Cu, Mo, Ag, W,常用的是Cu靶。
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另外,XRD物相分析检测服务,也可以利用谢乐公式计算:
谢乐公式的应用方法Dc = 0.89λ /(B cos θ)(λ为X 射线波长, B为衍射峰 半高宽, θ 为衍射角)双线法(Williams-Hall)测定金属晶体中的微观应力。晶块尺寸小于0.1μm,且有不均匀应变时衍射线宽化。可用谢乐方程或Hall法作定量计算。谢乐方程的假设是试样中没有晶体结构的不完整引起的宽化,则衍射线的宽化只是由晶块尺寸造成的,而且晶块尺寸是均匀的。需注意,晶粒大于100纳米以上,用谢乐公式不太准确,因为其半高宽的原因。准确的是在40nm左右,北京XRD物相分析检测,但是,低于100n都可以谢乐公式来算。另外,谢乐公式只适合球形粒子。
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