半导体XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，半导体XRD检测费用多少，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
制作试片的技巧
压片法：粉末均匀撒入样品池——用小刀剁实压紧——刮去多余凸出的粉末
涂片法：粉末撒在25mm*35mm*1mm的载玻片上——滴上足量的或酒精（假如试样在其中不溶解）——待/酒精挥发
两种制备几乎无择优取向试片的方法：（塑合法）（喷雾法）
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1）若样品为退火态粉末，此时无应变产生，衍射线宽化完全因样品晶粒尺寸过小导致的，半导体XRD检测哪里可以做，此时应选择SIZE only。
2）若样品为合金块状样品 ，结晶完整且加工过程中没有破碎，此时，线性宽化是由微观应变引起的，选择Strain only。
3）如样品存在上述两种情况，则应选择size/strain。
注意
a.利用XRD进行晶粒大小计算时，前提是假定晶粒为“球形”，所以其测出来的粒径不是很可靠，结果总是小于SEM和TEM，但无法进行和TEM时，其结果仍具有一定的参考依据。
b.该方法获得的晶粒尺寸是平均晶粒尺寸，是不同晶面上各衍射方向晶粒度大均值，若需要计算某一晶面上的晶粒尺寸，可采用“计算峰面积”命令。
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样品的挑选：
宏观特征：应该是透明，没有裂痕，表面干净，有光泽。（不是所有晶体都是透明的，但是好的晶体样品一定是没有裂痕的且没有明显的突出和凹陷，重庆半导体XRD检测，因为裂痕处会产生晶格错位，影响测试结构的准确性）
形貌特征：晶体样品如果是圆球状，那么这个晶粒样品很可能是非晶态，在测试过程中无法出现衍射图谱。晶体样品如果是树枝状活簇状晶体，尽量不要在这些上切割一个晶粒，好选择单一的一粒，因为切割会影响测试结果。
其他特征：晶体样品一般不溶于水，一般溶于水的样品都是无机盐。
样品的大小：
光源所带的准直器的内径决定了X射线强度一致区域的大小，半导体XRD检测机构，晶体的尺寸一般不能超过准直器的内径（常用的为0.5-0.6mm）。（我们要求是大于50微米）
晶体合适的尺寸是：纯有机物0.3-0.7mm，金属配合物或金属有机物0.15-0.5mm，纯无机物0.1-0.3mm。
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