AlGaN材料XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
结晶度的计算实际上就是一种特殊的定量分析，其原理出自一个。知道怎么做定量，当然也会做结晶度的计算。
如果你还想知道得更多，比如无标样定量分析方法等等，可以参考李树棠老师的书，一本很老的书，我们当时的教材，叫做《金属X射线衍射与电子显微分析技术 1》在晶体之星可以到。后来，这本书叫做《晶体X射线衍射学基础》，冶金工业出版社出版，好象网上还没有电子版。也许书店有得卖。另外有一本叫做《X射线衍射技术及设备》，冶金工业出版社出版。丘利，AlGaN材料XRD检测多少钱，胡玉和编著。你如果有这本书， X射线衍射方面的事情都可以先问它。如果你想通过全谱拟合的方法来计算定量，你得有一台好衍射仪。很多人都是用同步辐射光源来做。也有人用中子衍射来做。理学电机的18KW衍射仪也能做，因为它的功率大。不过，在衍射仪上做一个这样的测量需要几小时或者十几小时。
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什么是物相衍射强度？
强度表示为每秒的计数(Count per second， cps)，一个物相总是有多个衍射峰，而且由于衍射角不同、多重因子不同、结构因子不同等因素，一个物相的不同衍射峰的高度是不相同的，当然，衍射峰的面积也会不同。
一般说一个物相的衍射强度不是指在扫描范围(2θ)内全部衍射峰的强度，而是指其高的那个衍射峰的高度或者面积。当用高度来表示衍射强度时，可以称为线强度，而用面积来表示强度时称为积分强度。当然，没有哪一本书上这么死地规定一个物相的衍射强度。因此，也没有一本书上象这样详细地来说明一个物相的衍射强度到底是什么。
上面的说法仅是常用的方法，也是RIR值定义的方法。那么，能不能有别的方法来定义一个物相的衍射强度呢？当然可以，比如，AlGaN材料XRD检测分析，你想使用某个物相的次强线的高度来作为该物相的衍射强度也未尝不可。但是，有一点你要明白。定量分析的计算式中的RIR值的定义也要跟着变，不能再使用强峰的峰高来与刚玉的强线峰高之比了。能不能用某一个扫描范围内一个物相全部或部分衍射峰的高度(或面积)之和来表示这个物相的衍射强度呢？当然可以，不过，同样地，RIR值的定义也要跟着变。
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如果我想要从這个 powder diffraction profile 来解出其结晶结构，包括其各个晶格参数以及其是什么的晶型 tetragonalor orthorhombic 等等那我该如何是好呢？
如果你只想知道这个新物相的晶格参数和晶系，用你的粉末衍射数据去指标化就可以了。指标化就是确定每个衍射峰的衍射指标，当然这个过程同时就给出了晶系。
有没有一个程式是可以输入 a b c 三轴的值以及三轴之间的三个夾角然后就可以自动画出这样的晶型可能产生的 powder diffraction profile 呢？
有这样的程序可以输入晶格参数和空间群就可以理论计算出衍射峰的位置。可以用的软体 很多，CHEKCELL这个免费的软体就可以解决您的问题。如果需要理论计算衍射强度，你还需要给出原子坐标参数。
原子各向同性（异性）温度因子对结构影响大吗？
温度因子就是反映原子在平衡位置附近振动情况的一个因子，主要是对强度有影响，那当然就对结构有影响了。
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