XRD掠入射（GIXRD）检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，XRD掠入射（GIXRD）检测测试，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
反复地分析。
JADE或者其它相似的软件都存在一个问题，也许不是它本身的问题。也许某次检索出来的卡片与下一次检索出来的卡片会有不同，也许不同的时候你考虑的方面不同而使你选择了不同的卡片。因此，反复地分析一个样品，你会得出不同的结论。经过多次反复地检索，在多个结论中再作取舍，也许就是真实的结果了。说起来，好象没个完，还有一些东西也是可以用上的，比如颜色。如果检索出来的某个物相的颜色同实际样品的颜色相去甚远，则肯定不是准确的结果。
限于时间，不想耽误大家更多的时间，就说这么些。说到这里，还想说上一句。假如，你有什么样品的衍射谱希望论坛里的同行帮你分析一下，你好告诉一下：
1 样品中可能存在的元素
2 样品中可能存在的物相
你也应当理解：
1 不是你的同行，分析出来的结果当然有可能不对；
2 因为你给的已知条件太少，香港特别行政XRD掠入射（GIXRD）检测，因此，人家分析不出准确的结果；
3 因为物相的含量低于XRD检出的下限，因此，你希望找出来的那个物相偏偏就是看不到。
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工艺检测的目的不只是搜集数据，更重要的是要把不断产生的大量检测数据及时整理分析，不断揭示生产过程中存在的问题，向工艺控制反馈，XRD掠入射（GIXRD）检测费用多少，使之不致偏离正常的控制条件。因而对大量检测数据的科学管理，保证其能够得到准确和及时的处理，是半导体工艺检测中的一项重要关键。同时半导体检测也涉及大量的科学仪器，针对于此，对一些半导体检测的仪器进行介绍。
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好有其它分析、测量得到的化学、物理信息要紧的是需要比较可靠的化学组成分析结果，用来计算出化学式；如有可能，好能测定出样品密度，以便用于计算晶胞内容。可以用专门的仪器测定密度。如果自己手头缺乏密度测定仪器，可以把粉末压片，用千分尺量出样品直径和厚度计算体积，用电子天平测出重量，得到实验测量的密度值（肯定比理论值小，因为有空隙），但比没有数据好多了。
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